Rezultati
eNauka >
Rezultati >
A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress
| Naziv: | A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress | Autori: | Živanović, Emilija   ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Jovanović, Igor ; Đorić Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel |
Godina: | 2024 | Publikacija: | Micromachines | ISSN: | 2072-666X Micromachines Pretraži identifikator |
Izdavač: | MDPI | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 15 br. 4 str. 503-503 | DOI: | 10.3390/mi15040503 | WoS-ID: | 001209924900001 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85191376010 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/905124 | Projekat: | Serbian Ministry of Science, Technological Development and Innovation | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Jovanović, Igor | M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.