"Point-by-point" inversion vs. parametrized fitting of ultrathin film's dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Jakovljević, Milka M.; Aškrabić, Sonja; M. Artemyev; A. V. Prudnikau; A. V. Antanovich; Isić, Goran; Vasić, Borislav; Ralević, Uroš; Dohčević-Mitrović, Zorana; Gajić, Radoš

Резултати

еНаука > Резултати > "Point-by-point" inversion vs. parametrized fitting of ultrathin film's dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Назив:	"Point-by-point" inversion vs. parametrized fitting of ultrathin film's dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry
Аутори:	Jakovljević, Milka M.; Aškrabić, Sonja ; M. Artemyev; A. V. Prudnikau; A. V. Antanovich; Isić, Goran ; Vasić, Borislav ; Ralević, Uroš ; Dohčević-Mitrović, Zorana ; Gajić, Radoš
Година:	2019
Публикација:	VII International School and Conference on Photonics - PHOTONICA2019
Тип резултата:	Конференцијски рад
ISBN:	978-86-7306-153-5 Претражи идентификатор
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/905392
URL:	http://www.photonica.ac.rs/docs/PHOTONICA2019-Book_of_abstracts.pdf
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz ORCID-a) Isić, Goran
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.