"Point-by-point" inversion vs. parametrized fitting of ultrathin film's dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Jakovljević, Milka M.; Aškrabić, Sonja; M. Artemyev; A. V. Prudnikau; A. V. Antanovich; Isić, Goran; Vasić, Borislav; Ralević, Uroš; Dohčević-Mitrović, Zorana; Gajić, Radoš

Rezultati

eNauka > Rezultati > "Point-by-point" inversion vs. parametrized fitting of ultrathin film's dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry

Naziv:	"Point-by-point" inversion vs. parametrized fitting of ultrathin film's dielectric function measured by rotating polarizer ellipsometry
Autori:	Jakovljević, Milka M.; Aškrabić, Sonja ; M. Artemyev; A. V. Prudnikau; A. V. Antanovich; Isić, Goran ; Vasić, Borislav ; Ralević, Uroš ; Dohčević-Mitrović, Zorana ; Gajić, Radoš
Godina:	2019
Publikacija:	VII International School and Conference on Photonics - PHOTONICA2019
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-7306-153-5 Pretraži identifikator
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/905392
URL:	http://www.photonica.ac.rs/docs/PHOTONICA2019-Book_of_abstracts.pdf
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz ORCID-a) Isić, Goran
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.