Резултати
еНаука >
Резултати >
The Influence of Neutron and Gamma Radiation on the Reliability of Magnetic and Semiconductor Memories
| Назив: | The Influence of Neutron and Gamma Radiation on the Reliability of Magnetic and Semiconductor Memories | Аутори: | Kartalović, Nenad   ; Kovačević, Uroš ; Nikezić, Dušan ; Osmokrović, Predrag |
Година: | 2024 | Публикација: | Nuclear Technology and Radiation Protection | ISSN: | 1451-3994 Nuclear technology and radiation protection Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 39 br. 1 str. 21-28 | DOI: | 10.2298/NTRP2401021K | WoS-ID: | 001279090600003 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85206378359 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/13847 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/936808 |
Пројекат: | Ministarstvo nauke, tehnološkog razvoja i inovacija Republike Srbije, institucionalno finansiranje - 200017 (Univerzitet u Beogradu, Institut za nuklearne nauke Vinča, Beograd-Vinča) | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.