Results
eNauka >
Rezultati >
The Influence of Neutron and Gamma Radiation on the Reliability of Magnetic and Semiconductor Memories
| Naziv: | The Influence of Neutron and Gamma Radiation on the Reliability of Magnetic and Semiconductor Memories | Autori: | Kartalović, Nenad   ; Kovačević, Uroš ; Nikezić, Dušan ; Osmokrović, Predrag |
Godina: | 2024 | Publikacija: | Nuclear Technology and Radiation Protection | ISSN: | 1451-3994 Nuclear technology and radiation protection Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 39 br. 1 str. 21-28 | DOI: | 10.2298/NTRP2401021K | WoS-ID: | 001279090600003 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85206378359 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/13847 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/936808 |
Projekat: | Ministarstvo nauke, tehnološkog razvoja i inovacija Republike Srbije, institucionalno finansiranje - 200017 (Univerzitet u Beogradu, Institut za nuklearne nauke Vinča, Beograd-Vinča) | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.