Резултати
еНаука >
Резултати >
Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory Capacitors
| Назив: | Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory Capacitors | Аутори: | Spassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan   ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Danković, Danijel |
Година: | 2024 | Публикација: | Journal of Circuits, Systems and Computers | ISSN: | 0218-1266 Journal of Circuits Systems and Computers Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | DOI: | 10.1142/S0218126625410038 | WoS-ID: | 001379642700001 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85212847155 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/958744 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | Напомена о доступности: | Пуни текст није јавно доступан | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.