Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory Capacitors
| Naziv: | Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory Capacitors | Autori: | Spassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan   ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Danković, Danijel |
Godina: | 2024 | Publikacija: | Journal of Circuits, Systems and Computers | ISSN: | 0218-1266 Journal of Circuits Systems and Computers Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | DOI: | 10.1142/S0218126625410038 | WoS-ID: | 001379642700001 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85212847155 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/958744 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није јавно доступан | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.