Резултати
еНаука >
Резултати >
Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS Transistors
| Назив: | Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Аутори: | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Година: | 2024 | Публикација: | Proceedings SAUM 2024 | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 978-86-6125-282-2  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 125-128 | DOI: | 10.46793/SAUM24.125V | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/958749 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.