Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS Transistors
| Naziv: | Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Autori: | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel |
Godina: | 2024 | Publikacija: | Proceedings SAUM 2024 | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-86-6125-282-2  Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. 125-128 | DOI: | 10.46793/SAUM24.125V | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/958749 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Veljković, Sandra | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.