Rezultati
eNauka >
Rezultati >
A relationship between structural characteristics and noise properties of thick resistive films
| Naziv: | A relationship between structural characteristics and noise properties of thick resistive films | Autori: | Stanimirović, Ivanka   ; Jevtić, M.M.; Stanimirović, Zdravko |
Godina: | 2000 | Publikacija: | MIEL : 22nd International Conference on Microelectronics : Proceedings | Izdavač: | IEEE | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 0-7803-5235-1  Pretraži identifikator |
Kolacija: | vol. 2 str. 521-524 | DOI: | 10.1109/ICMEL.2000.838745 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/14381 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/967428 |
Napomena o dostupnosti: | Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.