Резултати
еНаука >
Резултати >
A relationship between structural characteristics and noise properties of thick resistive films
| Назив: | A relationship between structural characteristics and noise properties of thick resistive films | Аутори: | Stanimirović, Ivanka   ; Jevtić, M.M.; Stanimirović, Zdravko |
Година: | 2000 | Публикација: | MIEL : 22nd International Conference on Microelectronics : Proceedings | Издавач: | IEEE | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 0-7803-5235-1  Претражи идентификатор |
Колација: | vol. 2 str. 521-524 | DOI: | 10.1109/ICMEL.2000.838745 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/14381 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/967428 |
Напомена о доступности: | Пуни текст није доступан ни у електронској, ни у штампаној форми | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.