Резултати
| Назив: | EBS/C impurity and damage profiling of 4 MeV C implanted MgF2 single crystal | Аутори: | Gloginjić, Marko   ; Erich, Marko ; Kokkoris, M.; Chen, S.; Fazinić, S.; Karlušić, M.; Rajić, Vladimir ; Kirilkin, N.; Skuratov, V.; Petrović, Srđan M. |
Година: | 2025 | Публикација: | Materials Science in Semiconductor Processing | ISSN: | 1369-8001 Materials Science in Semiconductor Processing Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 199 str. 109865-109865 | DOI: | 10.1016/j.mssp.2025.109865 | WoS-ID: | 001534607600002 | Scopus-ID: | 2-s2.0-105010471261 | URI: | https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/15182 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/990649 |
Пројекат: | Joint Institute for Nuclear Research collaboration [project “The condensed matter physics with ion beams”] European Union's Horizon 2020 [824096 RADIATE] |
М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.