Istraživači

eNauka >  Researchers >  Danković, Danijel

Danković, Danijel

Rezultati 141-160 od 183
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2014Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETsManić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2014Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS TransistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snageAleksandar Ilić; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014On the Measurement Methods for Dielectric Constant Determination in Nb/BaTiO3 CeramicsMarjanović, Miloš B.  ; Paunović, Vesna V.  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Mitić, Vojislav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Recoverable and Permanent Components of V-T Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS TransistorsStojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  Poglavlje u monografiji
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013IEEESTEC Student Conference Enjoys Sponsorship of Local EDS-SSCS Chapters and IEEE Serbia and Montenegro Section [Chapters]Danković, Danijel  Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013The Importance of the IEEESTEC Students Projects ConfernceDanković, Danijel  ; Marjanović, Miloš B.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power VdmosfetĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2013An Electromechanical Approach to a Printed Circuit Board Design CourseDanković, Danijel  ; Vračar, Ljubomir  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2013Naponsko temperaturna naprezanja p-kanalnih VDMOS tranzistora snageDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica Đ.  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2013Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012Modelovanje napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom naponsko temperaturnih naprezanja i odžarivanjaManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjimaDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012Nova metoda za ispitivanje nestabilnosti usled naponsko temperaturnih naprezanja VDMOS tranzistora snageDanković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Vračar, Ljubomir M.  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Tehničko rešenje
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
201228th International Conference on Microelectronics Sponsored by SSCS-Serbia/Montenegro Chapters in May: Over 100 Converge from 22 Countries; Nearly 100 Papers [Chapters]Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel  Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistorsPrijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Vračar, Ljubomir  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2012Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETSDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
53M53 - Nacionalni časopis kategorije M53