Резултати

еНаука >  Резултати >  Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress
Назив: Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress
Аутори: Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M
Година: 2002
Публикација: Electronics Letters
ISSN: 0013-5194 Electronics Letters Претражи идентификатор
Издавач: United Kingdom : Institution of Engineering and Technology
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 38 br. 9 str. 431-431
DOI: 10.1049/el:20020281
WoS-ID: 000175537700025
Scopus-ID: 2-s2.0-0037171898
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799838
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису

10
SCOPUSTM
9
OpenCitations
10
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI

Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.