Rezultati
| Назив: | Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress | Аутори: | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M   ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M |
Година: | 2002 | Публикација: | Electronics Letters | ISSN: | 0013-5194 Electronics Letters Претражи идентификатор |
Издавач: | United Kingdom : Institution of Engineering and Technology | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 38 br. 9 str. 431-431 | DOI: | 10.1049/el:20020281 | WoS-ID: | 000175537700025 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0037171898 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799838 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.