Results
| Naziv: | Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress | Autori: | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M   ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M |
Godina: | 2002 | Publikacija: | Electronics Letters | ISSN: | 0013-5194 Electronics Letters Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : Institution of Engineering and Technology | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 38 br. 9 str. 431-431 | DOI: | 10.1049/el:20020281 | WoS-ID: | 000175537700025 | Scopus-ID: | 2-s2.0-0037171898 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799838 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.