Резултати

еНаука >  Резултати >  A defects classification algorithm for the hybrid OBT-IDDQ fault diagnosis technique in analog CMOS integrated circuits
Назив: A defects classification algorithm for the hybrid OBT-IDDQ fault diagnosis technique in analog CMOS integrated circuits
Аутори: Mirković, Dejan  ; Stanojlović Mirković, Milena  ; Milić, Miljana  ; Petrović, Vladimir
Година: 2024
Публикација: Journal of Circuits, Systems and Computers
ISSN: 0218-1266 Journal of Circuits Systems and Computers Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 33 br. 09 str. 2450146-2450146
DOI: 10.1142/S0218126624501469
WoS-ID: 001197485500004
Scopus-ID: 2-s2.0-85189948682
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/874785
Извор метаподатака: (Preuzeto iz CrossRef-a) Stanojlović Mirković, Milena
М-категорија: 
22M22 - Међународни часопис категорије M22

Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.