Резултати
еНаука >
Резултати >
A defects classification algorithm for the hybrid OBT-IDDQ fault diagnosis technique in analog CMOS integrated circuits
| Назив: | A defects classification algorithm for the hybrid OBT-IDDQ fault diagnosis technique in analog CMOS integrated circuits | Аутори: | Mirković, Dejan |
Година: | 2024 | Публикација: | Journal of Circuits, Systems and Computers | ISSN: | 0218-1266 Journal of Circuits Systems and Computers Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 33 br. 09 str. 2450146-2450146 | DOI: | 10.1142/S0218126624501469 | WoS-ID: | 001197485500004 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85189948682 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/874785 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Stanojlović Mirković, Milena | М-категорија: | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.