Rezultati
eNauka >
Rezultati >
A defects classification algorithm for the hybrid OBT-IDDQ fault diagnosis technique in analog CMOS integrated circuits
| Naziv: | A defects classification algorithm for the hybrid OBT-IDDQ fault diagnosis technique in analog CMOS integrated circuits | Autori: | Mirković, Dejan   ; Stanojlović Mirković, Milena ; Milić, Miljana ; Petrović, Vladimir |
Godina: | 2024 | Publikacija: | Journal of Circuits, Systems and Computers | ISSN: | 0218-1266 Journal of Circuits Systems and Computers Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 33 br. 09 str. 2450146-2450146 | DOI: | 10.1142/S0218126624501469 | WoS-ID: | 001197485500004 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85189948682 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/874785 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Stanojlović Mirković, Milena | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.