eNauka - pregled
Pregled prema Autor Mitrović, Nikola
Prikaz rezultata 1 do 20 od 80
sledeće >
Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
---|---|---|---|---|
2024 | A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress![]() | Živanović, Emilija ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2024 | Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2022 | Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2023 | Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory Applications![]() | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2018 | Comparison of output power between static and rotating solar panel![]() | Mitrović, Nikola ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2022 | Comparison of the performance of the different GPS receivers in practical applications![]() | Mitrović, Nikola ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2023 | Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2019 | Design and realization of solar cell monitoring system![]() | Stojanović, Milan D. ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2024 | Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applications![]() | Mitrović, Nikola ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2022 | Design of IoT platform for air quality monitoring system![]() | Mitrovic, Nikola ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2017 | Digitalni termometar realizovan na principu analogno-digitalne konverzije![]() | Mitrović, Nikola ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2021 | Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2023 | Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2023 | Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2022 | Elektrohemijski procesi odgovorni za nestabilnosti VDMOS tranzistora snage usled NBT naprezanja![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2023 | Experimental setup and procedure for NBT stress and irradiation of VDMOS transistors![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
2021 | Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress![]() | Veljković, Sandra ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
2021 | IEEESTEC na-S-paja![]() | Danković, Danijel ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | Conference Paper | Mp. category will be shown later |