Browsing eNauka

Browsing by Project [F-148]

Showing results 1 to 8 of 8
Issue DateTitleAuthor(s)TypeМp-cat.
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Article
22M22
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Article
22M22
2017Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric StacksDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Conference Paper
Mp. category will be shown later
2020Modeling of NBTS Effects in P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Mitrović, Nikola  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Article
22M22
2017Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran D.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Prijić, Aneta P.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; Golubović, Snežana B.  Conference Paper
Mp. category will be shown later
2019Modelling of δvt</sub> in NBT stressed P-channel power VDMOSFETSMitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Conference Paper
Mp. category will be shown later
2018NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistorsStojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Article
22M22
2021Radiation and annealing related effects in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  Article
22M22