eNauka - pregled

Pregled prema Autor Manic, Ivica Dj

Prikaz rezultata 1 do 7 od 7
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2004An improved analytical model of IGBT in forward conduction modePavlovic, Zoran; Manic, Ivica Dj; Stojadinovic, Ninoslav DKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2004Burn-in stressing effects on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETsDjoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav DKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2002Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MNaučni članak
22M22 - Rad u istaknutom međ. časopisu
2001Effects of elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETsStojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2002Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Davidović, Vojkan; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, SimaNaučni članak
22M22 - Rad u istaknutom međ. časopisu
2001Gamma-irradiation effects in power MOSFETs for application in communication satellitesStojadinovic, Ninoslav D; Djoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Manic, Ivica Dj; Golubovic, Snezana MKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2002Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress (✓)Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M  ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana MNaučni članak
21M21 - Rad u vrhunskom međ. časopisu