eNauka - pregled

Pregled prema Projekat [TR-32026]

Prikaz rezultata 1 do 19 od 19
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2019A Method for Automating the Measurement and Characterization of Electrical MaterialsĐorđević, Miloš D. ; Paunović, Vesna V.  ; Danković, Danijel M.  ; Milić Pejović  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2020A smart data logger system based on sensor and Internet of Things technology as part of the smart facultyĐorđević, Miloš ; Jovičić, Branislav; Marković, Stefan; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2020A Transient Modeling of the Thermoelectric Generators for Application in Wireless Sensor Network NodesMarjanović, Miloš  ; Prijić, Aneta  ; Ranđelović, Branislav  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2015Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFETDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2019Design Techniques for Wireless Sensor Network Nodes Powered by Ambient Energy HarvestingPrijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Vračar, Ljubomir  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2019Effect of Rare-Earth Ions on Electrical Properties of BaTiO3 CeramicsPaunović, Vesna  ; Đorđević, Miloš ; Mitić, Vojislav ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2013Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2017Electrical Properties of Rare Earth Doped BaTiO3 CeramicsPaunović, Vesna V.  ; Mitić, Vojislav V. ; Đorđević, Miloš D. ; Prijić, Zoran D.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2019Influence of Encryption Algorithms on Power Consumption in Energy Harvesting SystemsVračar, Ljubomir  ; Stojanović, Milan  ; Stanimirović, Aleksandar  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2020Modeling of NBTS Effects in P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Mitrović, Nikola  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2017Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran D.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Prijić, Aneta P.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; Golubović, Snežana B.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2019Modelling of δvt</sub> in NBT stressed P-channel power VDMOSFETSMitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2011NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditionsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2015Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradationDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2016On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Marjanović, Miloš  ; Ilic, Aleksandar; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2021Radiation and annealing related effects in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2015Thermal Energy Harvesting Wireless Sensor Node in Aluminum Core PCB TechnologyPrijić, Aneta  ; Vračar, Ljubomir  ; Vuckovic, Dusan; Milic, Dejan  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21