Резултати 1-20 од 148
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2025The SPICE Modeling of a Radiation Sensor Based on a MOSFET with a Dielectric HfO2/SiO2 Double-LayerMarjanović, Miloš  ; Ilić, Stefan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Umutcan Gurer; Ozan Yilmaz; Aysegul Kahraman; Aliekber Aktag; Huseyin Karacali; Erhan Budak;
Danković, Danijel  ; Ristić, Goran  ; Ercan Yilmaz;
Научни чланак
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису
2025Proposal of Dual-Gate Oxide Layered with HfO2: Comparative Results with SiO2-RadFETYilmaz, Ercan; Ristić, Goran  ; Turan, Rasit; Yilmaz, Ozan; Gurer, Umutcan; Danković, Danijel  ; Budak, Erhan; Marjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mutale, Alex;
Kahraman, Aysegul;
Научни чланак
21M21 - Рад у врхунском међ. часопису
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Научни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelНаучни чланак
23M23 - Рад у међ. часопису
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Научни чланак
24M24 - Рад у нац. часопису међ. значаја
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Gain dependence on free carrier concentration in LGADsKramberger, G; Hiti, B; Cindro, V; Howard, A; Mandic, I; Mikuz, M; Petek, M; Ristic, Aleksa T; Ristic, Goran S  Научни чланак
22M22 - Рад у истакнутом међ. часопису
2023Towards a Smart Multi-Sensor Ionizing Radiation Monitoring SystemAndjelković, Marko ; Chen, Junchao; Syed, Rizwan Tariq; Vargas, Fabian; Ulbricht, Markus; Krstić, Miloš  ; Ilić, Stefan  ; Marjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ;
Danković, Danijel  ; Ristić, Goran  ; Duane, Russell; Vasović, Nikola; Jakšić, Aleksandar; Palma, Alberto J.; Lallena, Antonio M.; Carvajal, Miguel A.;
Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Sensitivity and fading of eight different types of pMOS transistors irradiated to high doseVeljković, Sandra  ; Duane, Russell; Ristić, Goran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Prediction of Generated Single Event Transient Pulse Width Using Artificial Intelligence MethodsAndjelković, Marko ; Chen, J.; Syed, R. T.; Marjanović, Miloš  ; Ristić, Goran  ; Krstic, M.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Guirado, D.; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023An improved RADFET-based module with an extended dose range of 1 kGy TID based on COTS partsVasović, Nikola ; Duane, Russell; Ristić, Goran  ; Stanković, Srboljub  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Paskaleva, Albena; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and IrradiationVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Živanović, Emilija  ; Stanković, Srboljub  ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel  ;
Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023SPICE Modeling of RADFETs with Different Gate Oxide ThicknessesMarjanović, Miloš  ; Gürer, U.; Mitrović, Nikola  ; Yilmaz, O.; Danković, Danijel  ; Budak, E.; Ristić, Goran  ; Yilmaz, ErcanКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023TCAD validation of McWhorter method for extracting trapped charge in dielectricsVeljković, Sandra  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  ; Duane, RussellКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Successive irradiation and thermal annealing of commercial p-channel LDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto J.; Ristić, Goran  ; Carvajal, Miguel A.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Using TCAD Simulations to Verify the McWhorter Method for Assessing Trapped Charge in DielectricVeljković, Sandra  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Andjelković, Marko ; Duane, RussellКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.