Резултати 1-20 од 159
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2025Recovery Behavior of VDMOS Transistors under Sequential Irradiation and NBT StressĐorić-Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Thermal Cycling and Irradiation Stressing of Low Impedance Aluminum Electrolytic CapacitorsTasic, Lana; Davidovic, Vojkan S  ; Ristic, Goran S  ; Prijic, Zoran DКонференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor After NBT Stress and RelaxationĐorđević, Dunja; Tasić, Lana; Veselinović, Nevena; Petrović, Marija; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025The SPICE Modeling of a Radiation Sensor Based on a MOSFET with a Dielectric HfO2/SiO2 Double-LayerMarjanović, Miloš  ; Ilić, Stefan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Umutcan Gurer; Ozan Yilmaz; Aysegul Kahraman; Aliekber Aktag; Huseyin Karacali; Erhan Budak;
Danković, Danijel  ; Ristić, Goran  ; Ercan Yilmaz;
Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2025Characterization of RADFETs as Radiation Sensors for Telecommunication Satellite ApplicationsMarjanović, Miloš  ; Ilić, Stefan  ; Miljković, Sandra; Veljković, Sandra  ; Danković, Danijel  ; Yilmaz, Ercan; Ristić, Goran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Examination of Impact of NBTIs on Commercial Power P-Channel VDMOS Transistors in Practical ApplicationsDanković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Veselinović, Nevena; Đorđević, Dunja; Petrović, Marija; Tasić, Lana; Marjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ;
Ristić, Goran  ;
Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2025Proposal of Dual-Gate Oxide Layered with HfO2: Comparative Results with SiO2-RadFETYilmaz, Ercan; Ristić, Goran  ; Turan, Rasit; Yilmaz, Ozan; Gurer, Umutcan; Danković, Danijel  ; Budak, Erhan; Marjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mutale, Alex;
Kahraman, Aysegul;
Научни чланак
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
2025Influence of Magnetic Field on Commercial P-Channel VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Veljkovic, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Информативни прилог
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Is Reliability of Electronic Components Understandable to High School Students? A Workshop-Based Insight from the RESIST ProjectVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Информативни прилог
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Информативни прилог
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor under Dynamic Stress ConditionsĐorđević, Dunja; Veljkovic, Sandra  ; Ristić, Goran  Информативни прилог
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Influence of Pre-Stress Conditions on the Self-Heating Behavior of Power MOSFETsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Stanković, Srboljub  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Examination of TinyML Approach in ESP32-Based NFC ApplicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Andjelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Научни чланак
23M23 - Међународни часопис категорије M23
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Gain dependence on free carrier concentration in LGADsKramberger, G; Hiti, B; Cindro, V; Howard, A; Mandic, I; Mikuz, M; Petek, M; Ristic, Aleksa T; Ristic, Goran S  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22