Researchers
Pejović, Momčilo
Godina
Rezultati 41-59 od 59
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 1997 | Creation and passivation of interface traps in irradiated MOS transistors during annealing at different temperatures![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1997 | pMOS dosimetric transistors with two-layer gate oxide![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1996 | Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealing![]() | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1996 | Determination of formative time of electrical breakdown in nitrogen-filled tube![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistors![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETs![]() | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Sensitivity and fading of pMOS dosimeters with thick gate oxide![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Formative Time Determination in Nitrogen-Filled Tube Using Statistical Methods![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | P-channel metal-oxide-semiconductor dosimeter fading dependencies on gate bias and oxide thickness![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effects of γ-irradiation and postirradiation thermal annealing in power VDMOSFETs![]() | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Rebound effect in power VDMOSFETs due to latent interface-trap generation![]() | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1994 | The role of interface traps in rebound mechanisms![]() | Golubović, Snežana | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 1994 | pMOS dosimeter with two-layer gate oxide operated at zero and negative bias![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1994 | Annealing of gamma-irradiated Al-gate NMOS transistors![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1994 | Temperature and gate bias effects on gamma-irradiated Al-gate metal-oxide-semiconductor transistors![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1993 | pMOS transistors for dosimetric application![]() | Ristić, Goran | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1993 | A comparison between thermal annealing and UV‐radiation annealing of γ‐irradiated NMOS transistors![]() | Pejović, Momčilo | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 1992 | Opšti kurs fizike - zbirka rešenih zadataka![]() | Pejović, Momčilo M. | Leksikografska/Enciklopedijska jedinica | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
