Istraživači

Rezultati 121-140 od 183
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2017Characterization and SPICE Modeling of Passive Electronic Devices at High FrequenciesMarjanović, Miloš  ; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Mitić, Vojislav Poglavlje u monografiji
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2017Analiza debljine silicijum dioksida pomoću TCAD simulatoraMarjanović, Miloš B.  ; Paunović, Vesna V.  ; Prijić, Aneta P.  ; Danković, Danijel M.  ; Prijić, Zoran D.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2017A Steady-State SPICE Modeling of the Thermoelectric Wireless Sensor Network NodePrijić, Aneta P.  ; Marjanović, Miloš B.  ; Vračar, Ljubomir M.  ; Danković, Danijel M.  ; D. Milić; Prijić, Zoran D.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2017Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defectsPaskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2016PSPICE Modeling of Ionizing Radiation Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Prijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Davidović, Vojkan  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2016On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Marjanović, Miloš  ; Ilic, Aleksandar; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2016MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORSMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2016NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS TransistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2016Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2015Practical aspects of cellular M2M systems designPrijić, Aneta  ; Vračar, Ljubomir  ; Vuckovic, Dusan; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2015High frequency characterization and modelling of ceramic capacitorsMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Paunović, Vesna  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2015Characterization and PSPICE Modeling of Ceramic-Core Inductors at High FrequenciesMarjanović, Miloš  ; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2015Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistorsMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša ; Davidović, Vojkan  Naučni članak
51M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
2015Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradationDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2015Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFETDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2015Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2015Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2014Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS TransistorsĐorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistoraMarjanović, Miloš B.  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Davidović, Vojkan  ; Janković, Nebojša D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.