Istraživači
Danković, Danijel
Rezultati 121-140 od 183
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2017 | A Steady-State SPICE Modeling of the Thermoelectric Wireless Sensor Network Node | Prijić, Aneta P. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2017 | Characterization and SPICE Modeling of Passive Electronic Devices at High Frequencies | Marjanović, Miloš | Poglavlje u monografiji | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2017 | Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel M. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2017 | Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks![]() | Davidović, Vojkan S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2016 | MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS | Marjanović, Miloš | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2016 | On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2016 | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Davidović, Vojkan | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2016 | PSPICE Modeling of Ionizing Radiation Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation![]() | Danković, Danijel | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET![]() | Danković, Danijel | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | High frequency characterization and modelling of ceramic capacitors | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Characterization and PSPICE Modeling of Ceramic-Core Inductors at High Frequencies | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistors | Marjanović, Miloš | Naučni članak | 51M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51 |
| 2015 | Practical aspects of cellular M2M systems design | Prijić, Aneta | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistora | Marjanović, Miloš B. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Manić, Ivica Đ. | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
