Istraživači

eNauka >  Istraživači >  Danković, Danijel

Danković, Danijel

Rezultati 21-40 od 183
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2025A Method for Automatic Characterization and Measurement of Ceramic Materials Using Virtual InstrumentationĐorđević, Miloš ; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2025Experimental and SPICE-Based Modeling of NBTI and SHE in Power P-Channel VDMOS TransistorsTasić, Lana; Veselinović, Nevena; Petrović, Marija; Đorđević, Dunja; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2025Influence of Magnetic Field on Commercial P-Channel VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Veljkovic, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Informativni prilog
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2025Examination of TinyML Approach in ESP32-Based NFC ApplicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Andjelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2024SPICE modeling and simulation of RADFETsMarjanović, Miloš  ; Gurer, U.; Doganci, E.; Veljković, Sandra  ; Ilić, S.; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Yilmaz, E.Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnostiGavrić, Aleksandar  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Veljković, Sandra  ; Danković, Milan; Stanimirović, Aleksandar  ; Stoimenov, Leonid  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Uticaj Yb3+ i Ho3+ jona na specifičnu električnu otpornost dopirane BaTiO3 keramikeĐorđević, Miloš ; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature StressŽivanović, Emilija  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024International Conference on MicroelectronicsVeljković, Sandra  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024IEEESTEC 17th Student Projects Conference [November 28, 2024, Niš, Serbia]. Proceedings of Papers.Marković, Vera  ; Danković, Danijel  ; Marinković, Zlatica  ; Marjanović, Miloš  ; Stošić, Biljana  ; Živanović, Emilija  Uređivački rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory CapacitorsSpassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelNaučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024Istorijat i razvoj elektronike u NišuDanković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Veljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Źivanović, Emilija  ; Gavrić, Aleksandar  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.