Istraživači

eNauka >  Istraživači >  Danković, Danijel

Danković, Danijel

Резултати 21-40 од 183
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2025Primena prediktivnih tehnoloških modela u SPICE simulaciji prstenastog oscilatoraMarjanović, Miloš  ; Prijić, Aneta  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2025AIDA4Edge Project's Special Session on Hardware and Software Solutions for Edge AI ApplicationsPerić, Zoran  ; Dinčić, Milan  ; Nikolić, Jelena  ; Danković, Danijel  ; Andjelković, Marko; Bertozzi, Davide; Zese, RiccardoKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2025Examination of TinyML Approach in ESP32-Based NFC ApplicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Andjelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2025AIDA4Edge: Twinning for Excellence in Adaptive Edge Artificial IntelligenceAndjelković, Marko; Syed, Rizwan Tariq; Veronesi, Alessandro; Vargas, Fabian; Ulbricht, Markus; Poehls, Leticia Bolzani; Krstić, Miloš; Bertozzi, Davide; Jones, Edward G.; Rhodes, Oliver;
Zese, Riccardo; Favalli, Michele; Bizzarri, Alice; Lamma, Evelina; Gavanelli, Marco; Bellodi, Elena; Perić, Zoran  ; Nikolić, Jelena  ; Dinčić, Milan  ; Jovanović, Aleksandra  ; Ćirić, Dejan  ; Vučić, Nikola  ; Perić, Sofija  ; Jovanović, Jelena  ; Stojanović, Milica  ; Nikolić, Tatjana  ; Nikolić, Goran  ; Nedeljković, Jelena  ; Danković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Predić, Bratislav  ; Milovanović, Tamara;
Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024International Conference on MicroelectronicsVeljković, Sandra  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature StressŽivanović, Emilija  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024Uticaj Yb3+ i Ho3+ jona na specifičnu električnu otpornost dopirane BaTiO3 keramikeĐorđević, Miloš ; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024IEEESTEC 17th Student Projects Conference [November 28, 2024, Niš, Serbia]. Proceedings of Papers.Marković, Vera  ; Danković, Danijel  ; Marinković, Zlatica  ; Marjanović, Miloš  ; Stošić, Biljana  ; Živanović, Emilija  Uređivački rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2024Istorijat i razvoj elektronike u NišuDanković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Veljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnostiGavrić, Aleksandar  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Veljković, Sandra  ; Danković, Milan; Stanimirović, Aleksandar  ; Stoimenov, Leonid  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelNaučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024SPICE modeling and simulation of RADFETsMarjanović, Miloš  ; Gurer, U.; Doganci, E.; Veljković, Sandra  ; Ilić, S.; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Yilmaz, E.Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory CapacitorsSpassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Źivanović, Emilija  ; Gavrić, Aleksandar  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.