Истраживачи

eNauka >  Researchers >  Danković, Danijel

Danković, Danijel

Резултати 21-40 од 183
Issue DateTitleAuthor(s)TypeМp-cat.
2025IEEESTEC 18th Student Projects Conference [November 27, 2025, Niš, Serbia]. Proceedings of Papers. Organized by EESTEC LC Niš, IEEE Student Branch Niš, Faculty of Electronic Engineering Niš.Marković, Vera  ; Danković, Danijel  ; Marinković, Zlatica  ; Marjanović, Miloš  ; Stošić, Biljana  ; Živanović, Emilija  Уређивачки рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Impact of NBTS and Thermal Relaxation on Characteristic of CMOS InverterVeselinović, Nevena; Petrović, Marija; Đorđević, Dunja; Tasić, Lana; Mitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Recovery Behavior of VDMOS Transistors under Sequential Irradiation and NBT StressĐorić-Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2025Examination of TinyML Approach in ESP32-Based NFC ApplicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Andjelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024IEEESTEC 17th Student Projects Conference [November 28, 2024, Niš, Serbia]. Proceedings of Papers.Marković, Vera  ; Danković, Danijel  ; Marinković, Zlatica  ; Marjanović, Miloš  ; Stošić, Biljana  ; Živanović, Emilija  Уређивачки рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024International Conference on MicroelectronicsVeljković, Sandra  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  Научни чланак
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature StressŽivanović, Emilija  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2024Uticaj Yb3+ i Ho3+ jona na specifičnu električnu otpornost dopirane BaTiO3 keramikeĐorđević, Miloš ; Paunović, Vesna  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelНаучни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2024Istorijat i razvoj elektronike u NišuDanković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Veljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Научни чланак
23M23 - Међународни часопис категорије M23
2024Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnostiGavrić, Aleksandar  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Veljković, Sandra  ; Danković, Milan; Stanimirović, Aleksandar  ; Stoimenov, Leonid  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Научни чланак
21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
2024SPICE modeling and simulation of RADFETsMarjanović, Miloš  ; Gurer, U.; Doganci, E.; Veljković, Sandra  ; Ilić, S.; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Yilmaz, E.Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory CapacitorsSpassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2024Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Źivanović, Emilija  ; Gavrić, Aleksandar  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.