Istraživači
Manić, Ivica
Godina
Rezultati 21-40 od 68
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2014 | Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Manić, Ivica Đ.   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav D. | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran | Poglavlje u monografiji | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | Recoverable and Permanent Components of V-T Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Prijić, Zoran ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2013 | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 2013 | Naponsko temperaturna naprezanja p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica Đ. ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2013 | Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2013 | The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2013 | Time-dependent dielectric breakdown in pure and lightly Al-doped Ta2O5 stacks | Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov; Manić, Ivica ; Albena Paskaleva | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2012 | A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors | Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Vračar, Ljubomir ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2012 | Modelovanje napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom naponsko temperaturnih naprezanja i odžarivanja | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 53M53 - Nacionalni časopis kategorije M53 |
| 2012 | Nova metoda za ispitivanje nestabilnosti usled naponsko temperaturnih naprezanja VDMOS tranzistora snage | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Vračar, Ljubomir M. ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Tehničko rešenje | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | Measurements of Negative Bias Temperature Instability (NBTI) in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2011 | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2011 | Hf-doped Ta2O5 stacks under constant voltage stress | Manić, Ivica ; Atanassova, E.; Stojadinović, Ninoslav ; Spassov, D.; Paskaleva, A. | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |