Istraživači
Ristić, Goran
Godina
- 134 2000 - 2027
- 27 1900 - 1999
Mp-kat.
- 69 M30/M60
- 39 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 17 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 12 M20/M50
- 10 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 8 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M10/M40
- 1 M15/M16
- 1 M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+
- 1 M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 141-160 od 161
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 1997 | Creation and passivation of interface traps in irradiated MOS transistors during annealing at different temperatures | Pejović, Momčilo  ; Ristić, Goran  | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1997 | Formation and passivation of interface traps in irradiated n-channel power VDMOSFETs during thermal annealing | Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran ; Jakšić, Aleksandar | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1997 | Efficiency of copper and gold cathode in initiation of secondary emission in nitrogen-filled tube | Pejović, Momčilo ; Marković, Vidosav ; Ristić, Goran ; Mekić, S. | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1997 | pMOS dosimetric transistors with two-layer gate oxide | Ristić, Goran ; Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1996 | Analysis of the processes in power MOSFETs during γ-ray irradiation and subsequent thermal annealing | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran ; Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1996 | Determination of formative time of electrical breakdown in nitrogen-filled tube | Pejović, Momčilo ; Marković, Vidosav ; Ristić, Goran ; Mekić, S. | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Formative Time Determination in Nitrogen-Filled Tube Using Statistical Methods | Pejović, Momčilo ; Živković, Jasmina; Milosavljević, Čedomir ; Ristić, Goran | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Latent interface-trap generation during thermal annealing of γ-ray irradiated power VDMOSFETs | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran ; Pejovic, Momčilo | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Temperature-induced rebound in Al-gate NMOS transistors | Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effects of γ-irradiation and postirradiation thermal annealing in power VDMOSFETs | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran ; Pejović, Momčilo | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Sensitivity and fading of pMOS dosimeters with thick gate oxide | Ristić, Goran ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | P-channel metal-oxide-semiconductor dosimeter fading dependencies on gate bias and oxide thickness | Ristić, Goran ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Rebound effect in power VDMOSFETs due to latent interface-trap generation | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran ; Pejović, Momčilo | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Davidović, Vojkan ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1994 | Annealing of gamma-irradiated Al-gate NMOS transistors | Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Odalović, Milan | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1994 | pMOS dosimeter with two-layer gate oxide operated at zero and negative bias | Ristić, Goran ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1994 | Temperature and gate bias effects on gamma-irradiated Al-gate metal-oxide-semiconductor transistors | Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Odalović, Milan | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1994 | The role of interface traps in rebound mechanisms | Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Pejović, Momčilo ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 1993 | pMOS transistors for dosimetric application | Ristić, Goran ; Golubović, Snežana ; Pejović, Momčilo | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1993 | A comparison between thermal annealing and UV‐radiation annealing of γ‐irradiated NMOS transistors | Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |