Istraživači

Rezultati 21-40 od 99
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2024Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnostiGavrić, Aleksandar  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Veljković, Sandra  ; Danković, Milan; Stanimirović, Aleksandar  ; Stoimenov, Leonid  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS TransistorsĐorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Ristić, Goran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature StressŽivanović, Emilija  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2024Istorijat i razvoj elektronike u NišuDanković, Danijel  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Veljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistorsMitrović, Nikola  ; Guirado, Damian; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, MiguelNaučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditionsVeljkovic, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS TransistorVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Živanović, Emilija  ; Marjanović, Miloš  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2024Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024SPICE modeling and simulation of RADFETsMarjanović, Miloš  ; Gurer, U.; Doganci, E.; Veljković, Sandra  ; Ilić, S.; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Yilmaz, E.Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory CapacitorsSpassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2024Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Marjanović, Miloš  ; Živanović, Emilija  ; Davidović, Vojkan  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS TransistorsMarjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Źivanović, Emilija  ; Gavrić, Aleksandar  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2024The role of OLED devices in the development of smart citiesĐorić Veljković, Snežana  ; Mitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Živanović, Emilija  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2023IoT Enabled Software Platform for Air Quality MeasurementsMitrović, Nikola  ; Đorđević, Milan; Veljković, Sandra  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2023Impact of low magnetic field on NBT stressed p-channel power VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2023Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory ApplicationsSpassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2023Towards a Smart Multi-Sensor Ionizing Radiation Monitoring SystemAndjelković, Marko ; Chen, Junchao; Syed, Rizwan Tariq; Vargas, Fabian; Ulbricht, Markus; Krstić, Miloš  ; Ilić, Stefan  ; Marjanović, Miloš  ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ;
Danković, Danijel  ; Ristić, Goran  ; Duane, Russell; Vasović, Nikola; Jakšić, Aleksandar; Palma, Alberto J.; Lallena, Antonio M.; Carvajal, Miguel A.;
Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2023SPICE Modeling of RADFETs with Different Gate Oxide ThicknessesMarjanović, Miloš  ; Gürer, U.; Mitrović, Nikola  ; Yilmaz, O.; Danković, Danijel  ; Budak, E.; Ristić, Goran  ; Yilmaz, ErcanKonferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2023Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and IrradiationVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Živanović, Emilija  ; Stanković, Srboljub  ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel  ;
Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.