Istraživači
Mitrović, Nikola
Rezultati 21-40 od 99
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2024 | Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnosti![]() | Gavrić, Aleksandar | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS Transistors![]() | Đorić Veljković, Snežana | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2024 | A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress![]() | Živanović, Emilija | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2024 | Istorijat i razvoj elektronike u Nišu![]() | Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Thermal annealing induced recovery of the VT of irradiated commercial MOS transistors![]() | Mitrović, Nikola | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2024 | The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditions![]() | Veljkovic, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistors![]() | Veljković, Sandra | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 2024 | Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applications![]() | Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | SPICE modeling and simulation of RADFETs![]() | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory Capacitors![]() | Spassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2024 | Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS Transistors![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS Transistors![]() | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | The role of OLED devices in the development of smart cities![]() | Đorić Veljković, Snežana | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2023 | IoT Enabled Software Platform for Air Quality Measurements![]() | Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Impact of low magnetic field on NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory Applications![]() | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Towards a Smart Multi-Sensor Ionizing Radiation Monitoring System![]() | Andjelković, Marko | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | SPICE Modeling of RADFETs with Different Gate Oxide Thicknesses![]() | Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
