Истраживачи
Stojadinović, Ninoslav
Godina
Mp-kat.
Godina - raspon
Rezultati 21-40 od 81
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Đorić-Veljković, Snežana   ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša D. | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2014 | Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav D. | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2014 | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Prijić, Zoran ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2014 | Recoverable and permanent components of V<inf>T</inf> shift in pulsed NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Conference Paper | Mp. category will be shown later |
| 2014 | Recoverable and Permanent Components of V-T Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snage | Aleksandar Ilić; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran | Поглавље у монографији | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2013 | Naponsko temperaturna naprezanja p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica Đ. ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2013 | The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2013 | Time-dependent dielectric breakdown in pure and lightly Al-doped Ta2O5 stacks | Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov; Manić, Ivica ; Albena Paskaleva | Article | 21M21 |
| 2013 | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2013 | Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 53M53 - Национални часопис категорије M53 |
| 2012 | 28th International Conference on Microelectronics Sponsored by SSCS-Serbia/Montenegro Chapters in May: Over 100 Converge from 22 Countries; Nearly 100 Papers [Chapters] | Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | Modelovanje napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom naponsko temperaturnih naprezanja i odžarivanja | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors | Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Vračar, Ljubomir ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |