Истраживачи
Golubović, Snežana
Резултати 1-20 од 71
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2023 | Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistors![]() | Mitrović, Nikola | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2023 | Experimental setup and procedure for NBT stress and irradiation of VDMOS transistors![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress![]() | Veljković, Sandra | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2022 | Radiation and pulsed NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETs![]() | Mitroviћ, Nikola | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications![]() | Mitrović, Nikola | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2022 | P-channel power VDMOSFETs under the influence of radiation and static/pulsed NBT stress![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Radiation and annealing related effects in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2021 | Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Veljković, Sandra | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Methods for modeling of NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETs![]() | Mitrović, Nikola | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2019 | Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage![]() | Đorić-Veljković, Snežana M. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2018 | Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanju![]() | Davidović, Vojkan S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors![]() | Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors![]() | Davidović, Vojkan | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2017 | Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponente![]() | Davidović, Vojkan S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
