Истраживачи

Резултати 1-20 од 71
ГодинаНасловАутор(и)Тип резултатаМп-кат.
2023Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistorsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2023Experimental setup and procedure for NBT stress and irradiation of VDMOS transistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2022P-channel power VDMOSFETs under the influence of radiation and static/pulsed NBT stressVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2022Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2022Radiation and pulsed NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETsMitroviћ, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2022Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature StressVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Stanković, Srboljub  ; Andjelković, Marko ; Prijić, Zoran  ;
Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  ;
Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2022Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applicationsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija  ; Prijić, Zoran  ; Danković, Danijel  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2021Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stressVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2021Radiation and annealing related effects in NBT stressed P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2021Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2021Methods for modeling of NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2021Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS TransistorsVeljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ;
Stanković, S.  ; Danković, Danijel  ;
Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2021A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Mitrović, Nikola  ; Veljkovic, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Golubović, Snežana Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2019Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub  Научни чланак
24M24 - Водећи национални часопис категорије M24
2018Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanjuDavidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Ivica Manić  ; Prijić, Zoran D.  ; Prijić, Aneta P.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2018NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistorsStojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Научни чланак
22M22 - Међународни часопис категорије M22
2017Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric StacksDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Конференцијски рад
Мп категорија ће бити приказана накнадно.