Istraživači
Golubović, Snežana
Rezultati 1-20 od 71
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2023 | Experimental setup and procedure for NBT stress and irradiation of VDMOS transistors | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistors | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Stanković, Srboljub ; Andjelković, Marko ; Prijić, Zoran ;
Manić, Ivica
; Prijić, Aneta ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel ; | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2022 | Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2022 | P-channel power VDMOSFETs under the influence of radiation and static/pulsed NBT stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Radiation and pulsed NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETs | Mitroviћ, Nikola ; Veljković, Sandra ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Mitrović, Nikola ; Veljkovic, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Golubović, Snežana | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ;
Stanković, S.
; Danković, Danijel ; | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Methods for modeling of NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETs | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2021 | Radiation and annealing related effects in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2019 | Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Đorić-Veljković, Snežana M. ; Davidović, Vojkan S. ; Danković, Danijel M. ; Golubović, Snežana M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors | Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2018 | Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanju | Davidović, Vojkan S. ; Danković, Danijel M. ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Ivica Manić ; Prijić, Zoran D. ; Prijić, Aneta P. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2017 | Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks | Davidović, Vojkan S. ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |