Istraživači
Davidović, Vojkan
Godina
- 38 2020 - 2027
- 39 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Mp-kat.
- 54 M30/M60
- 30 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 7 M20/M50
- 6 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 3 M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
- 2 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 1 M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
- 1 M53 - Nacionalni časopis kategorije M53
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 41-60 od 108
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2019 | Impact of γ Radiation on Charge Trapping Properties of Nanolaminated HfO2/Al2O3 ALD Stacks | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Davidović, Vojkan S.   ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Stanković, Srboljub J. ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Ivanov, Tzvetan E.; Stanchev, T. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2019 | Feasibility of applying an electrically programmable floating-gate MOS transistor in radiation dosimetry | Ilić, S. ; Jevtić, A.; Stanković, Srboljub J. ; Davidović, Vojkan S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors | Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2018 | Dekapsulacija i analiza EPAD-a | Aleksandar Jevtić; Stefan Ilić ; Davidović, Vojkan S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanju | Davidović, Vojkan S. ; Danković, Danijel M. ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Ivica Manić ; Prijić, Zoran D. ; Prijić, Aneta P. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2018 | Karakterizacija električno programabilnog MOS tranzistora sa plivajućim gejtom | Jevtić, Aleksandar S. ; Ilić, Stefan ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta P. ; Prijić, Zoran | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2017 | Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponente | Davidović, Vojkan S. ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2017 | Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks | Davidović, Vojkan S. ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2017 | Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel M. ; Manić, Ivica Đ. ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran D. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Davidović, Vojkan S. ; Prijić, Aneta P. ; A. Paskaleva; D. Spassov; Golubović, Snežana B. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2016 | MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS | Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2016 | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2016 | On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Marjanović, Miloš ; Ilic, Aleksandar; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2016 | PSPICE Modeling of Ionizing Radiation Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš ; Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran ; Davidović, Vojkan | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistors | Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša ; Davidović, Vojkan | Naučni članak | 51M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |