Истраживачи
Davidović, Vojkan
Година
- 37 2020 - 2027
- 39 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Мп-кат.
- 54 M30/M60
- 29 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 7 M20/M50
- 6 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 21-40 од 107
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2024 | The role of OLED devices in the development of smart cities | Đorić Veljković, Snežana   ; Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Živanović, Emilija ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2023 | Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Živanović, Emilija ; Stanković, Srboljub ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel
; | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2023 | Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory Applications | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2023 | Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistors | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2023 | Experimental setup and procedure for NBT stress and irradiation of VDMOS transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Stanković, Srboljub ; Andjelković, Marko ; Prijić, Zoran ;
Manić, Ivica
; Prijić, Aneta ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel ; | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2022 | P-channel power VDMOSFETs under the influence of radiation and static/pulsed NBT stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Impact of negative bias temperature instability on p-channel power VDMOSFET used in practical applications | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2022 | Characterization of irradiated and NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2022 | Radiation and pulsed NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETs | Mitroviћ, Nikola ; Veljković, Sandra ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Radiation and annealing related effects in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ;
Stanković, S.
; Danković, Danijel ; | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Methods for modeling of NBTS induced threshold voltage shift in p-channel power VDMOSFETs | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Mitrović, Nikola ; Veljkovic, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Golubović, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Radiation Tolerance and Charge Trapping Enhancement of ALD HfO2/Al2O3 Nanolaminated Dielectrics | Spassov, Dencho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elżbieta; Davidović, Vojkan ; Stanković, Srboljub J. ; Đorić-Veljković, Snežana ; Ivanov, Tzvetan; Stanchev, Todor; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a |
| 2021 | Efekti zračenja i odžarivanja kod naponsko temperaturno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2021 | Gate oxide degradation of electronic components due to irradiation and bias temperature stress | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Danković, Danijel | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2019 | Feasibility of applying an electrically programmable floating-gate MOS transistor in radiation dosimetry | Ilić, S. ; Jevtić, A.; Stanković, Srboljub J. ; Davidović, Vojkan S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2019 | Comparison of Radiation Characteristics of HfO2 and SiO2 Incorporated in MOS Capacitor in Field of Gamma and X Radiation | Stanković, Srboljub J. ; Nikolić, Dragana ; Kržanović, Nikola ; Nađđerđ, Laslo ; Davidović, Vojkan S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2019 | Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Đorić-Veljković, Snežana M. ; Davidović, Vojkan S. ; Danković, Danijel M. ; Golubović, Snežana M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |