Истраживачи
Davidović, Vojkan
Година
- 37 2020 - 2027
- 39 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Мп-кат.
- 54 M30/M60
- 29 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 7 M20/M50
- 6 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 41-60 од 107
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2019 | Comparison of Radiation Characteristics of HfO2 and SiO2 Incorporated in MOS Capacitor in Field of Gamma and X Radiation | Stanković, Srboljub J.   ; Nikolić, Dragana ; Kržanović, Nikola ; Nađđerđ, Laslo ; Davidović, Vojkan S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | Karakterizacija električno programabilnog MOS tranzistora sa plivajućim gejtom | Jevtić, Aleksandar S. ; Ilić, Stefan ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta P. ; Prijić, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | Dekapsulacija i analiza EPAD-a | Aleksandar Jevtić; Stefan Ilić ; Davidović, Vojkan S. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistors | Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2018 | Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanju | Davidović, Vojkan S. ; Danković, Danijel M. ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Ivica Manić ; Prijić, Zoran D. ; Prijić, Aneta P. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2018 | NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETs | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2017 | Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel M. ; Manić, Ivica Đ. ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran D. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Davidović, Vojkan S. ; Prijić, Aneta P. ; A. Paskaleva; D. Spassov; Golubović, Snežana B. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2017 | Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric Stacks | Davidović, Vojkan S. ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2017 | Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponente | Davidović, Vojkan S. ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M. ; Manić, Ivica Đ. ; Danković, Danijel M. ; Stojadinović, Ninoslav D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2016 | PSPICE Modeling of Ionizing Radiation Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš ; Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Prijić, Zoran ; Davidović, Vojkan | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2016 | Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 24M24 - Водећи национални часопис категорије M24 |
| 2016 | MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS | Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša | Научни чланак | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2016 | On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Marjanović, Miloš ; Ilic, Aleksandar; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2016 | NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS Transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2015 | Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistors | Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša ; Davidović, Vojkan | Научни чланак | 51M51 - Водећи национални часопис категорије M51 |
| 2015 | Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana | Научни чланак | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |