Истраживачи
Davidović, Vojkan
Година
- 37 2020 - 2027
- 39 2010 - 2019
- 30 2000 - 2009
- 1 1990 - 1999
Мп-кат.
- 54 M30/M60
- 29 M22 - Међународни часопис категорије M22
- 7 M20/M50
- 6 M21 - Водећи међународни часопис категорије M21
- 3 M24 - Водећи национални часопис категорије M24
- 2 M23 - Међународни часопис категорије M23
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Водећи међународни часопис категорије M21a
- 1 M51 - Водећи национални часопис категорије M51
- 1 M53 - Национални часопис категорије M53
- следећи >
Година - распон
Резултати 61-80 од 107
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2015 | Modeling and PSPICE Simulation of Radiation Stress Influence on Threshold Voltage Shifts in P-Channel Power VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš   ; Danković, Danijel ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snage | Aleksandar Ilić; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistora | Marjanović, Miloš B. ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Davidović, Vojkan ; Janković, Nebojša D. | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2014 | Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran | Поглавље у монографији | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2013 | The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2013 | Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 23M23 - Међународни часопис категорије M23 |
| 2013 | Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2012 | Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 53M53 - Национални часопис категорије M53 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2011 | NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing | Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2010 | Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2009 | Analiza tehnika za razdvajanje efekata naelektrisanja u oksidu gejta i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snage | Davidović, Vojkan | Докторска дисертација | 70M70 - Одбрањена докторска дисертација |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |
| 2008 | Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors | Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Научни чланак | 22M22 - Међународни часопис категорије M22 |