Istraživači
Ristić, Goran
Godina
- 134 2000 - 2027
- 27 1900 - 1999
Mp-kat.
- 69 M30/M60
- 39 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 17 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 12 M20/M50
- 10 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 8 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M10/M40
- 1 M15/M16
- 1 M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+
- 1 M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 121-140 od 161
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2003 | Comparison between post-irradiation annealing and post-high electric field stress annealing of n-channel power VDMOSFETs | Ristic, Goran S   ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar B | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2002 | Memory effects in argon, nitrogen, and hydrogen | Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Electrical breakdown in low pressure gases | Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S ; Karamarkovic, Jugoslav P | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2002 | Characterisation of radiation response of 400 nm implanted gate oxide RADFETs | Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran ; Pejovic, Milić ; Mohammadzadeh, Ali; Lane, William | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2002 | Influence of tube wall material type and tube temperature on the recombination processes of nitrogen ions and atoms in afterglow | Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S ; Milosavljevic, Cedomir S; Pejovic, Milic M | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2002 | Gamma-ray irradiation and post-irradiation responses of high dose range RADFETs | Jaksic, Aleksandar B; Ristic, Goran S ; Pejovic, Momcilo M; Mohammadzadeh, A; Sudre, C; Lane, W | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2002 | Analysis of mechanisms which lead to electrical breakdown in argon using the time delay method | Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2000 | Isothermal and isochronal annealing experiments on irradiated commercial power VDMOSFETs | Jaksic, Aleksandar B; Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2000 | Properties of latent interface-trap buildup in irradiated metal-oxide-semiconductor transistors determined by switched bias isothermal annealing experiments | Jaksic, Aleksandar B; Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S | Naučni članak | 21a+M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+ |
| 2000 | Analysis of postirradiation annealing of n-channel power vertical double-diffused metal-oxide-semiconductor transistors | Ristic, Goran S ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar B | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2000 | New experimental evidence of latent interface-trap buildup in power VDMOSFETs | Jaksic, Aleksandar B; Ristic, Goran S ; Pejovic, Momcilo M | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2000 | Post-irradiation behavior of commercial power VDMOSFETs | Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2000 | Nitrogen-filled tube as a sensor of ionizing radiation | Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2000 | Analysis of mechanisms which lead to electrical breakdown in a krypton-filled tube using the time delay method | Pejovic, Momcilo M; Ristic, Goran S | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1998 | Modelling of kinetics of creation and passivation of interface traps in metal-oxide-semiconductor transistors during postirradiation annealing | Ristić, Goran ; Pejović, Momčilo ; Jakšić, Aleksandar | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 1998 | The behaviour of radiation-induced gate-oxide defects in MOSFETs during annealing at 140°C | Pejović, Momčilo ; Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 1998 | Numerical simulation of creation-passivation kinetics of interface traps in irradiated n-channel power VDMOSFETs during thermal annealing with various gate biases | Ristić, Goran ; Pejović, Momčilo ; Jakšić, Aleksandar | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1998 | Radijacioni i posleradijacioni efekti kod VDMOS tranzistora snage i PMOS dozimetrijskih tranzistora | Ristić, Goran S. | Doktorska disertacija | 70M70 - Odbranjena doktorska disertacija |
| 1998 | Latent interface-trap generation in commercial power VDMOSFETs | Jakšić, Aleksandar; Pejović, Momčilo ; Ristić, Goran ; Raković, S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1997 | Processes in n-channel MOSFETS during postirradiation thermal annealing | Pejović, Momčilo ; Jakšić, Aleksandar; Ristić, Goran ; Baljošević, B. | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |