Stojadinović, Ninoslav

Tip

Godina

Mp-kat.

Godina - raspon

Godina od:

Godina do:

Rezultati 41-60 od 81 Rezultati/stranica

Godina	Naslov	Autor(i)	Tip rezultata	Mp-kat.
2012	Modelovanje napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom naponsko temperaturnih naprezanja i odžarivanja	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2012	A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors	Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Vračar, Ljubomir ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2012	28th International Conference on Microelectronics Sponsored by SSCS-Serbia/Montenegro Chapters in May: Over 100 Converge from 22 Countries; Nearly 100 Papers [Chapters]	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel	Naučni članak	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2011	NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2011	Hf-doped Ta2O5 stacks under constant voltage stress	Manić, Ivica ; Atanassova, E.; Stojadinović, Ninoslav ; Spassov, D.; Paskaleva, A.	Naučni članak	21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2011	Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs	Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2010	Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks	Manić, Ivica ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Constant Voltage Stressing of Hf-Doped Ta2O5 Stacks	Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav ; Elena Atanassova; Dencho Spassov	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress	Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2010	Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing	Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2009	Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	Constant voltage stress induced current in Ta2O5 stacks and its dependence on a gate electrode	Atanassova, E; Stojadinović, Ninoslav D ; Paskaleva, A; Spassov, D; Vračar, Ljubomir M ; Georgieva, M	Naučni članak	21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
2008	Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors	Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2008	Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2007	Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2007	Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.