Istraživači
Stojadinović, Ninoslav
Godina
Mp-kat.
- 34 M30/M60
- 23 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 8 M20/M50
- 6 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 3 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 2 M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
- 1 M10/M40
- 1 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 1 M24+ - Međunarodni časopis kategorije M24+
- 1 M53 - Nacionalni časopis kategorije M53
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 61-80 od 81
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Manić, Ivica | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS![]() | Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2005 | Computer as powerful tool in reliability testing of thin gate dielectrics in MOS devices![]() | Vračar, Ljubomir | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2003 | Stress-induced leakage currents in thin silicon dioxide films![]() | Pesić, Biljana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2003 | Computer controlled equipment for laboratory exercises in physics and electronics![]() | Vračar, Ljubomir | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2002 | Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2001 | Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistors![]() | Manić, Ivica | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1998 | A new technology computer-aided design (TCAD) system based on neural network models![]() | Pantić, Dragan | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1996 | Charge-pumping characterization of SiO/sub 2//Si interface in virgin and irradiated power VDMOSFETs![]() | Habaš, Predrag | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs![]() | Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Inverse modeling of semiconductor manufacturing processes by neural networks![]() | Pantić, Dragan | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1994 | An efficient multiparticle diffusion simulation by an adaptive multigrid method![]() | Pantić, Dragan | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1992 | The efficient simulation of point diffusion by an adaptive multigrid method![]() | Pantić, Dragan | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1991 | MUSIC — A MULTIGRID SIMULATOR FOR IC FABRICATION PROCESSES![]() | Miljković, Slobodan; Pantić, Dragan | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
