Istraživači
Veljković, Sandra
Tip
Godina
- 155 2000 - 2027
Mp-kat.
- 121 M30/M60
- 12 M20/M50
- 8 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 4 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 3 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 2 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 2 ostalo
- 1 M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+
- 1 M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
- 1 M52 - Nacionalni časopis kategorije M52
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 21-40 od 155
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2025 | Impact of Bias Temperature Stress, Irradiation and Self-Heating Effects on p-Channel Power VDMOS Transistors | Veljković, Sandra   ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Informativni prilog | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2025 | Investigation of Self-Heating Effects in Power VDMOS Transistors Subjected to different Pre-Stress Conditions | Živanović, Emilija ; Veljkovic, Sandra | Informativni prilog | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2025 | Influence of Pre-Stress Conditions on the Self-Heating Behavior of Power MOSFETs | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Stanković, Srboljub ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2025 | Investigation of the Self-Heating Effect in a P-Channel VDMOS Transistor under Dynamic Stress Conditions | Đorđević, Dunja; Veljkovic, Sandra ; Ristić, Goran | Informativni prilog | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2025 | Examination of TinyML Approach in ESP32-Based NFC Applications | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Andjelković, Marko ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2025 | Realizacija uređaja Kocka za društvene igre | Veljković, Sandra ; Vračar Zlatković, Jana ; Branković, Neda ; Stojković, Aleksandra ; Mitrović, Nikola ; Stojanović, Milan ; Marjanović, Miloš | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Assessment of NBT Stressing Impact on the Continuous Operation of Power VDMOS Transistor | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Živanović, Emilija ; Marjanović, Miloš ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Impact of Trapped Charge on the Breakdown Phenomena in HfO2/Al2O3 — Based Memory Capacitors | Spassov, D.; Paskaleva, A.; Guziewicz, E.; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Danković, Danijel | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2024 | IEEE Region 8 Student and Young Professional kongres 2024 | Veljković, Sandra ; Marjanović, Miloš | Izveštaj | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | The effects of NBT stressing on later operation of power VDMOS transistors under normal conditions | Veljkovic, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Albena Paskaleva; Dencho Spassov; Jovanović, Igor ; Živanović, Emilija ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | International Conference on Microelectronics | Veljković, Sandra ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | SPICE modeling and simulation of RADFETs | Marjanović, Miloš ; Gurer, U.; Doganci, E.; Veljković, Sandra ; Ilić, S.; Mitrović, Nikola ; Danković, Danijel ; Yilmaz, E. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Istorijat i razvoj elektronike u Nišu | Danković, Danijel ; Živanović, Emilija ; Marjanović, Miloš ; Veljkovic, Sandra ; Mitrović, Nikola | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | A Reliability Investigation of VDMOS Transistors: Performance and Degradation Caused by Bias Temperature Stress | Živanović, Emilija ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Jovanović, Igor ; Đorić Veljković, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2024 | Recovery Analysis of Sequentially Irradiated and NBT-Stressed VDMOS Transistors | Đorić Veljković, Snežana ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Ristić, Goran ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2024 | Laboratorijske vežbe iz oblasti mikroelektronike uvirtuelnoj realnosti | Gavrić, Aleksandar ; Mitrović, Nikola ; Živanović, Emilija ; Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Veljković, Sandra ; Danković, Milan; Stanimirović, Aleksandar ; Stoimenov, Leonid | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Design and testing of low-cost portable magnetometer for consumer applications | Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Successive irradiation and bias temperature stress induced effects on commercial p-channel power VDMOS transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Davidović, Vojkan ; Živanović, Emilija ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Naučni članak | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
| 2024 | Modified SPICE-Compatible Model Integrating NBTI and Self-Heating Effects for VDMOS Transistors | Marjanović, Miloš ; Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Źivanović, Emilija ; Gavrić, Aleksandar ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2024 | Stress-induced Degradations and Self-heating Effects in P-channel Power VDMOS Transistors | Veljković, Sandra ; Mitrović, Nikola ; Marjanović, Miloš ; Živanović, Emilija ; Davidović, Vojkan ; Ristić, Goran ; Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |