eNauka - pregled
Pregled prema Autor Stojadinović, Ninoslav
Prikaz rezultata 1 do 20 od 111
sledeće >
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2012 | 28th International Conference on Microelectronics Sponsored by SSCS-Serbia/Montenegro Chapters in May: Over 100 Converge from 22 Countries; Nearly 100 Papers [Chapters] | Stojadinović, Ninoslav  ; Danković, Danijel  | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2014 | A Method for Measuring NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Prijić, Zoran ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2012 | A method for negative bias temperature instability (NBTI) measurements on power VDMOS transistors | Prijić, Aneta ; Danković, Danijel ; Vračar, Ljubomir ; Manić, Ivica ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1989 | A new multi-layer ion implantation model for process simulation | Pantić, Dragan ; Miljković, S.; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1998 | A new technology computer-aided design (TCAD) system based on neural network models | Pantić, Dragan ; Trajković, Tatjana; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2018 | A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1994 | An efficient multiparticle diffusion simulation by an adaptive multigrid method | Pantić, Dragan ; Mijalković, S.; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2015 | Analysis of recoverable and permanent components of threshold voltage shift in NBT stressed p-channel power VDMOSFET | Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2001 | Analytical modelling of electrical characteristics in gamma-irradiated power VDMOS transistors | Manić, Ivica ; Pavlović, Zoran; Prijić, Zoran ; Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2015 | Annealing influence on recovery of electrically stressed power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2011 | Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs | Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1996 | Charge-pumping characterization of SiO/sub 2//Si interface in virgin and irradiated power VDMOSFETs | Habaš, Predrag ; Prijić, Zoran ; Pantić, Dragan ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Computer as powerful tool in reliability testing of thin gate dielectrics in MOS devices | Vračar, Ljubomir ; Pešić, Biljana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2003 | Computer controlled equipment for laboratory exercises in physics and electronics | Vračar, Ljubomir ; Stojadinović, Ninoslav ; Acković, B; Jovanović, S | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2008 | Constant voltage stress induced current in Ta2O5 stacks and its dependence on a gate electrode | Atanassova, E; Stojadinović, Ninoslav D ; Paskaleva, A; Spassov, D; Vračar, Ljubomir M ; Georgieva, M | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2010 | Constant Voltage Stressing of Hf-Doped Ta2O5 Stacks | Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav ; Elena Atanassova; Dencho Spassov | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2010 | Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Effect of radiation-induced oxide-trapped charge on mobility in p-channel MOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Pejović, Momčilo ; Golubović, Snežana ; Ristić, Goran ; Davidović, Vojkan ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2018 | Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistors | Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2010 | Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks | Manić, Ivica ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |