Istraživači
Đorić-Veljković, Snežana
Godina
- 126 2000 - 2027
- 7 1900 - 1999
Mp-kat.
- 78 M30/M60
- 28 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 9 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 5 M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
- 3 M52 - Nacionalni časopis kategorije M52
- 2 M10/M40
- 2 M20/M50
- 2 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 1 M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 101-120 od 133
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2010 | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Stojadinović, Ninoslav  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2010 | Puasonov potok događaja kao model za prolazak vozila kroz presek puta | Petrović, Miloš; Đorić-Veljković, Snežana ; Karamarković, Jugoslav | Naučni članak | 52M52 - Nacionalni časopis kategorije M52 |
| 2009 | Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2008 | Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors | Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2008 | Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2008 | New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2008 | Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2008 | Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETs | Dankovic, D.; Manic, I.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S. ; Golubovic, S.; Stojadinovic, N. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2007 | Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2007 | Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snage | Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Давидовић, Војкан | Monografija | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2006 | NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs | Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2006 | Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2006 | Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs | Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2005 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2005 | Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2003 | Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2003 | Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs | Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Đoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Effects of positive gate bias stressing and subsequent recovery treatment in power VDMOSFETs | Stojadinovic, N.; Manic, I.; Đoric-Veljkovic, S. ; Davidovic, V.; Golubovic, S.; Dimitrijev, S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |