Istraživači

Rezultati 1-20 od 81
GodinaNaslovAutor(i)Tip rezultataMp-kat.
2020Modelovanje promena napona praga p-kanalnih VDMOS tranzistora snage tokom NBT naprezanjaMitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2020Modeling of NBTI degradation in p-channel VDMOSFETsMitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
24+M24+ - Međunarodni časopis kategorije M24+
2020Modeling of NBTS Effects in P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Mitrović, Nikola  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav D. Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2020Modeling of Static Negative Bias Temperature Stressing in p-channel VDMOSFETs using Least Square MethodMitrović, Nikola  ; Ranđelović, Branislav  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2019Procedure merenja električnih karakteristika naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snageĐorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2019Impact of γ Radiation on Charge Trapping Properties of Nanolaminated HfO2/Al2O3 ALD StacksSpassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Davidović, Vojkan S.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Stanković, Srboljub J.  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Ivanov, Tzvetan E.; Stanchev, T.Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2019Modelling of δvt</sub> in NBT stressed P-channel power VDMOSFETSMitrović, Nikola  ; Danković, Danijel  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2018NBTI and irradiation related degradation mechanisms in power VDMOS transistorsStojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Stanković, Srboljub  ; Prijić, Aneta  ; Prijić, Zoran  ; Manić, Ivica  ; Danković, Danijel  Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2018Effects of consecutive irradiation and bias temperature stress in p-channel power vertical double-diffused metal oxide semiconductor transistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilić, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2018A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Aneta  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Zoran  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Paskaleva, A.; Spassov, D.; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2018Elektrohemijski procesi kod p-kanalnih VDMOS tranzistora snage pri sukcesivnom NBT naprezanju i ozračivanjuDavidović, Vojkan S.  ; Danković, Danijel M.  ; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Ivica Manić  ; Prijić, Zoran D.  ; Prijić, Aneta P.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2018NBT stress and radiation related degradation and underlying mechanisms in power VDMOSFETsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Golubović, Snežana ; Đorić Veljković, Snežana  ; Manić, Ivica  ; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Stankovic, Srboljub  Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2017Modelling of Threshold Voltage Shift in Pulsed NBT Stressed P-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Stojadinović, Ninoslav D. ; Prijić, Zoran D.  ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Davidović, Vojkan S.  ; Prijić, Aneta P.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; Golubović, Snežana B.  Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2017Electrical and Charge Trapping Properties of HfO2/Al2O3 Multilayer Dielectric StacksDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2017Ispitivanje višeslojnih HfO2/Al2O3 struktura za memorijske komponenteDavidović, Vojkan S.  ; A. Paskaleva; D. Spassov; E. Guziewicz; T. Krajewski; Golubović, Snežana M. ; Đorić-Veljković, Snežana M.  ; Manić, Ivica Đ.  ; Danković, Danijel M.  ; Stojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2017NBTI and Radiation Related Degradation and Lifetime Estimation in Power VDMOSFETsStojadinović, Ninoslav D. Konferencijski rad
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2016Effects of pulsed negative bias temperature stressing in p-channel power VDMOSFETsManić, Ivica  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
2016MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORSMarjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša Naučni članak
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2016On the Recoverable and Permanent Components of NBTI in p-Channel Power VDMOSFETsDanković, Danijel  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Marjanović, Miloš  ; Ilic, Aleksandar; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2016NBTI and Irradiation Effects in P-Channel Power VDMOS TransistorsDavidović, Vojkan  ; Danković, Danijel  ; Ilic, Aleksandar; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav Naučni članak
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21