Davidović, Vojkan

Tip

Godina

Mp-kat.

Godina - raspon

Godina od:

Godina do:

Rezultati 61-80 od 108 Rezultati/stranica

Godina	Naslov	Autor(i)	Tip rezultata	Mp-kat.
2015	Modeling and PSPICE simulation of NBTI effects in VDMOS transistors	Marjanović, Miloš ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Janković, Nebojša ; Davidović, Vojkan	Naučni članak	51M51 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M51
2015	Negative bias temperature instability in p-channel power VDMOSFETs: recoverable versus permanent degradation	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran ; Golubović, Snežana	Naučni članak	21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
2014	Negative Bias Temperature Instability in Thick Gate Oxides for Power MOS Transistors	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran	Poglavlje u monografiji	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014	Modeliranje i PSPICE simulacija NBTI efekata kod VDMOS tranzistora	Marjanović, Miloš B. ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Davidović, Vojkan ; Janković, Nebojša D.	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014	Recovery Treatment Effects on Gamma Radiation Response in Electrically Stressed Power VDMOS Transistors	Đorić-Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2014	Mobilna eksperimentalna postavka za određivanje napona praga VDMOS tranzistora snage	Aleksandar Ilić; Prijić, Zoran ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Stojadinović, Ninoslav D.	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013	Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage	Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2013	Effects of static and pulsed negative bias temperature stressing on lifetime in p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
2013	The Comparison of Gamma-Radiation and Electrical Stress Influences on Oxide and Interface Defects in Power Vdmosfet	Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2012	Lifetime estimation in nbt-stressed p-channel power VDMOSFETS	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Prijić, Aneta ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	53M53 - Nacionalni časopis kategorije M53
2012	Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima	Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2011	NBTI related degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs under the static and pulsed NBT stress conditions	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2011	Annealing of radiation-induced defects in burn-in stressed power VDMOSFETs	Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2010	Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress	Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing	Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2009	Analiza tehnika za razdvajanje efekata naelektrisanja u oksidu gejta i površinskih stanja kod VDMOS tranzistora snage	Davidović, Vojkan	Doktorska disertacija	70M70 - Odbranjena doktorska disertacija
2009	Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors	Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22