Istraživači
Đorić-Veljković, Snežana
Godina
- 127 2000 - 2027
- 7 1901 - 1999
Mp-kat.
- 79 M30/M60
- 28 M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
- 9 M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21
- 5 M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24
- 3 M52 - Nacionalni časopis kategorije M52
- 2 M10/M40
- 2 M20/M50
- 2 M23 - Međunarodni časopis kategorije M23
- 1 M21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a
- 1 M21a+ - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a+
- sledeći >
Godina - raspon
Rezultati 121-134 od 134
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2002 | Effects of high electric field and elevated-temperature bias stressing on radiation response in power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj; Đoric-Veljkovic, Snezana M   ; Davidović, Vojkan ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Mechanisms of spontaneous recovery in positive gate bias stressed power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Radiation hardening of power MOSFETs using electrical stress | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2002 | Effects of burn-in stressing on radiation response of power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Manic, Ivica Dj; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2002 | Effects of positive gate bias stressing and subsequent recovery treatment in power VDMOSFETs | Stojadinovic, N.; Manic, I.; Đoric-Veljkovic, S. ; Davidovic, V.; Golubovic, S.; Dimitrijev, S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2002 | Spontaneous recovery of positive gate bias stressed power VDMOSFETs | Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2001 | Mechanisms of positive gate bias stress induced instabilities in power VDMOSFETs | Stojadinovic, Ninoslav D; Manic, Ivica Dj ; Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Davidovic, Vojkan S ; Golubovic, Snezana M; Dimitrijev, Sima | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1999 | Power VDMOS transistors response to lowered temperature conditions | Đoric-Veljkovic, S. ; Golubovic, S.; Davidovic, V.; Stojadinovic, N. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1999 | Modeling of γ-Irradiation and Lowered Temperature Effects in Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors | Golubovic, Snezana; Đoric-Veljkovic, Snezana ; Davidovic, V.; Stojadinovic, Ninoslav | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 1998 | Modeling Radiation-Induced Mobility Degradation in MOSFETs | Stojadinović, N.; Golubović, S.; Davidović, V.; Đorić-Veljković, S. ; Dimitrijev, S. | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 1997 | Modeling of radiation-induced mobility degradation in MOSFETs | Stojadinovic, N.; Golubovic, S.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S. ; Dimitrijev, S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Analysis of gamma-irradiation induced degradation mechanisms in power VDMOSFETS | Stojadinović, N.; Golubović, S.; Đorić, S. ; Dimitrijev, S. | Naučni članak | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1995 | Analysis of gamma-irradiation induced oxide charge and interface trap effects in power VDMOSFETs | Đoric-Veljkovic, S. ; Davidovic, V. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 1994 | Separation of irradiation induced gate oxide charge and interface traps effects in power VDMOSFETs | Stojadinović, N.; Đorić, S. ; Davidović, V.; Golubović, S. | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |