Đorić-Veljković, Snežana

Тип

Година

Мп-кат.

Година - распон

Година од:

Година до:

Резултати 101-120 од 133 Резултати/страница

Година	Наслов	Аутор(и)	Тип резултата	Мп-кат.
2010	Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2010	Priroda i svojstva elektromagnetnog zračenja i termografija	Đorić-Veljković, Snežana	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2009	Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008	Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors	Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008	Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008	New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2008	Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2008	Negative bias temperature stress and annealing effects in p-channel power VDMOSFETs	Dankovic, D.; Manic, I.; Davidovic, V.; Đoric-Veljkovic, S. ; Golubovic, S.; Stojadinovic, N.	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007	Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2007	Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006	Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006	Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snage	Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Давидовић, Војкан	Монографија	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2006	NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006	Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2006	Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2005	Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2005	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2003	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.
2003	Effects of burn-in stressing on post-irradiation annealing response of power VDMOSFETs	Đoric-Veljkovic, Snezana M ; Đoric-Veljkovic, Snezana M; Davidovic, Vojkan S; Golubovic, Snezana M; Stojadinovic, Ninoslav D	Научни чланак	22M22 - Међународни часопис категорије M22
2002	Effects of positive gate bias stressing and subsequent recovery treatment in power VDMOSFETs	Stojadinovic, N.; Manic, I.; Đoric-Veljkovic, S. ; Davidovic, V.; Golubovic, S.; Dimitrijev, S.	Конференцијски рад	Мп категорија ће бити приказана накнадно.