Manić, Ivica

Tip

Godina

Mp-kat.

Godina - raspon

Godina od:

Godina do:

Rezultati 41-60 od 68 Rezultati/stranica

Godina	Naslov	Autor(i)	Tip rezultata	Mp-kat.
2010	Instabilities in p-channel power VDMOSFETs subjected to pulsed negative bias temperature stressing	Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2010	Degradation of p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress	Đorić-Veljković, Snežana ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Constant Voltage Stressing of Hf-Doped Ta2O5 Stacks	Manić, Ivica ; Stojadinović, Ninoslav ; Elena Atanassova; Dencho Spassov	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Negative Bias Temperature Instability in p-Channel Power VDMOSFETs Under Pulsed Bias Stress	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić-Veljković, Snežana ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2010	Effects of Constant Voltage Stress in Hf-doped Ta2O5 Stacks	Manić, Ivica ; Elena Atanassova; Stojadinović, Ninoslav ; Dencho Spassov	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2009	Effects of low gate bias annealing in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	Negative bias temperature instability in n-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	Mechanisms of spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2008	New approach in estimating the lifetime in NBT stressed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2008	Turn-Around of Threshold Voltage in Gate Bias Stressed p-Channel Power Vertical Double-Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Transistors	Davidović, Vojkan ; Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2007	Impact of negative bias temperature instabilities on lifetime in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2007	Negative bias temperature instabilities in sequentially stressed and annealed p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2006	NBT stress-induced degradation and lifetime estimation in p-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2006	Efekti naprezanja oksida gejta VDMOS tranzistora snage	Golubović, Snežana ; Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Давидовић, Војкан	Monografija	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2006	Spontaneous recovery in DC gate bias stressed power VDMOSFETs	Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2006	Electrical stressing effects in commercial power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2006	Lifetime estimation in NBT stressed P-channel power VDMOSFETs	Danković, Danijel ; Manić, Ivica ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav	Konferencijski rad	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.
2005	Negative bias temperature instability mechanisms in p-channel power VDMOSFETs	Stojadinović, Ninoslav ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Davidović, Vojkan ; Manić, Ivica ; Golubović, Snežana	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22
2005	Effects of electrical stressing in power VDMOSFETS	Stojadinović, Ninoslav ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Dimitrijev, Sima	Naučni članak	22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22